《电子器件核加固基础》

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拼音Dianzi Qijian Hejiagu Jichu

卷名军事著作

美国L.W.里基茨著。1972年出版。中译本由《电子器件核加固基础》翻译组译,国防工业出版社1978年6月出版,共44.3万字。  全书分为10章。第1、第2章主要介绍抗核加固的起因和要求,电子器件抗核加固的模拟、分析、质量控制、鉴定及其分析方法,核辐射环境和辐射效应的定义、基本概念。第3至第6...

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